wat半导体参数测试设备+晶圆片检测仪认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案；详询
S型数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储，一键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
技术参数
Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度-电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
源限度-电流源：±3A（≤10V量程），±1A（≤30V量程），±100mA（≤300V量程）；
过量程： 105%量程，源和测量；
稳定负载电容：<22nF；
宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80mV；
蕞大采样速率：S系列1000 S/s，SXXB系列32000S/s;
触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；
输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作环境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm宽 ×425mm长；
重量：5KG
质保期：1年
S系列源表应用
分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；
武汉普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、脉冲式源表、集成插卡式源表、窄脉冲电流源、高精度高压电源等，田补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、搞效驱动程序和搞效算法软件组合，帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。详询一八一四零六六三四七六；
