PMST系列功率半导体参数测试仪1700V/1000A是武汉普赛斯正向设计、精益打造的高精密电压/电流测试分析系统，是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试，并具有的测量效率、一致性与可靠性。让任何工程师使用它都能变成行业专家。详询一八一四零六六三四七六
针对用户不同测试场景的使用需求，普赛斯全新推出PMST功率器件静态参数测试系统、PMST-MP功率器件静态参数产线半自动化测试系统、PMST-AP功率器件静态参数产线全自动化测试系统三款功率器件静态参数测试系统。
从实验室到小批量、大批量产线的全覆盖
从Si IGBT、SiC MOS到GaN HEMT的全覆盖
从晶圆、芯片、器件、模块到IPM的全覆盖
产品特点
1、高电压、大电流
具有高电压测量/输出能力，电压高达3500V（蕞大可扩展至10kV）
具有大电流测量/输出能力，电流高达6000A（多模块并联）
2、高精度测量
nA级漏电流，μΩ级导通电阻
0.1％精度测量
四线制测试
3、模块化配置
可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元
系统预留升级空间，后期可添加或升级测量单元
4、测试效率高
内置专用开关矩阵，根据测试项目自动切换电路与测量单元
支持国标全指标的一键测试
5、软件功能丰富
上位机自带器件标准参数测试项目模板，可直接调取使用
支持曲线绘制
自动保存测试数据，并支持EXCEL格式导出
开放的标准SCPI指令集，可与第三方系统集成
6、扩展性好
支持常温及低温、高温测试
可灵活定制各种夹具
可与探针台，温箱等第三方设备联动使用
硬件特色与性能优势
1、大电流输出响应快，无过冲
采用自主开发的高性能脉冲式大电流源、高压源，输出建立过程响应快、无过冲。测试过程中，大电流典型上升时间为15μs， 脉宽在50~500μs之间可调。采用脉冲大电流的测试方式，可有 效降低器件因自身发热带来的误差。
2、高压测试支持恒压限流，恒流限压模式
采用自主开发的高性能高压源，输出建立与断开响应快、无过冲。在击穿电压测试中，可设定电流限制或者电压限值，防止 器件因过压或过流导致损坏。
规格参数
普赛斯仪表砖业研究和开发半导体材料与器件测试的砖业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、搞效率测量和分析。如果您对igbt静态测试设备and参数分析仪感兴趣，欢迎随时联系我们！详询一八一四零六六三四七六；
