分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，又占用过多测试台的空间；而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定性及更慢的总线传输速度等缺点。 实施半导体分立器件特性参数分析的佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、 波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。数字源表之半导体特性测试仪IV曲线扫描仪认准普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六
产品功能：
①集合电压源、电流源、电压表、电流表的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。
②四象限工作，可作为源或负载
普赛斯数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
普赛斯数字源表技术参数
Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
电流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
过量程： 105%量程，源和测量；
稳定负载电容：<22nF；
宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80uV；
大采样速率：1000 S/s；
触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；
输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作环境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm宽 × 425mm长；
普赛斯数字源表应用：
分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管
BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；
半导体特性测试仪IV曲线扫描仪联系我们：
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