样品检测利用扫描电镜观测纳米SiO2包覆后羰基铁粉的微观形貌，测试电压为5.0kV，放大倍数为15.0×103倍，测试结果。利用扫描电镜附带的能谱仪对其进行能谱分析。可以看出，羰基铁粉外表光滑，主要成球状，粉体颗粒表面的粗糙度明显增加，说明羰基铁粉表面包覆了纳米级微小颗粒。能谱分析结果也显示，羰基铁粉颗粒表面增添了硅元素。根据正硅酸乙酯和氨水的化学反应机理可知，这些硅元素来自反应产物二氧化硅。综上可知，羰基铁粉颗粒表面成功包覆了一层纳米SiO2薄膜。分别称取适量的羰基铁粉和纳米SiO2包覆的羰基铁粉，按规定比例与石蜡混合，搅拌分散均匀后，用模具压制成厚2mm的同轴环。使用HP-8722ES分析仪用同轴法测试同轴环样品的电磁参数。

　　纳米SiO2包覆对羰基铁粉电磁参数的影响通常吸波材料的电磁性能用介电常数ε和磁导率μ表征，它们决定着介质中电磁能量的积蓄和消耗。根据电介质和磁介质在交变电磁场中的极化、磁化机理可知，ε′和μ′与电磁场的储能密度有关，分别表征材料在电磁场中被极化和磁化时存储能量的能力；ε″和μ″则与材料在单位时间内损耗的能量有关，分别表征材料在电磁场中被极化和磁化时损耗能量的度量。根据纳米SiO2包覆前后羰基铁粉电磁参数的测量结果，对比其复介电常数和复磁导率。