通过对水树老化程度不同的XLPE电缆施加一个较低的直流阶跃电压，采用快速富里叶变换的方法对含水树XLPE电缆的超低频频谱（0.1～0.001Hz）进行了分析，同时用电桥法记录了在0.1Hz～3MHz频率范围电缆各老化阶段的损耗频谱。实验显示，用超低频损耗检测XLPE电缆的水树化状态的灵敏度较高，由于该方法施加的直流电压较小，不会对电缆绝缘造成损伤，极有可能成为现场检测XLPE电缆劣化状态的有效手段。

　　介质损耗因数（tanδ）是用来描述介质材料不完善性及电气设备绝缘性能的重要参数之一。一般而论，tanδ越大的绝缘材料或设备绝缘结构，其漏电损耗越大。按定义，某介质试样或电气设备试品的tanδ在数值上应等于在某种频率的检测电压下流过该试样的电阻性电流IR与流过该试样的电容电流IC的比值。材料的tanδ值近似与所施加的试验电压角频率成反比，或者说介质材料在低频下应有较大的介质损耗因数。

　　由于一般情况下，电气设备，特别是高压设备的绝缘介质均采用优良介质制造，即使发生绝缘劣化，其工频下的δ之值也非常小，因此tanδ测量属精密微量测量，对测试设备的测量灵敏度要求较高。但在现场的强干扰情况下测量，采用同样的测试设备的测量灵敏度要下降一个数量级以上，故而工频现场测量电气设备tanδ的难度很大。